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Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100

產品簡介

Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100抖動消除:參比雙通道信號同時采集;功率檢測范圍:50 nW-40 mW。

更新時間:2024-09-12
廠商性質:生產廠家
訪問量:474

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Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100主要技術指標

精密光學位移臺 

速度

30 mm/s

最小分辨率

0.1 μm

重復定位精度

<2 μm

功率探測器


測試波長

350-1700 nm

功率檢測范圍

50 nW-40 mW

抖動消除

參比雙通道信號同時采集









Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100應用實例

 實驗條件 

樣品名稱

單晶硅

激發(fā)光波長

1030 nm

探測光波長

1030 nm

Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100

大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術,致力于推動光譜技術在科研和工業(yè)領域的深入應用。在科研儀器領域,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш牐悄壳皣鴥葮O少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產-應用完整能力體系的團隊。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術,超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產品,打破進口壟斷格局。主要產品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導體檢測領域,公司以光譜技術創(chuàng)新為核心立足點,已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局。

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